当前位置：首页  >  产品中心  >  晶圆厚度测量  >  硅片厚度测量仪

产品分类

Product Category

相关文章

Related Articles
  • FR-Ultra NIR N3 晶圆厚度测量系统
    FR-Ultra NIR N3 晶圆厚度测量系统

    FR-Ultra 是一款专用于精确测量半导体以及介电材料超厚层的专用设备。 藉由先进的光学器件，FR-Ultra 可以测量光滑或粗糙的薄膜以及较厚的基材。

    更新时间：2025-09-04
    型号：
    厂商性质：代理商
    浏览量：2307
共 1 条记录，当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页